（来源：优利德集团）
2026年6月3日至5日，上海国际半导体技术大会暨展览会（SIA）在上海新国际博览中心举行。优利德携VNA4000系列矢量网络分析仪、UTS7000A系列信号分析仪、UPO70000系列数字荧光示波器、UPO6000LP系列紧凑型高分辨率示波器和USM3301数字源表等多款产品亮相，覆盖射频参数分析、频谱测量、时域波形捕获与精密源激励等半导体核心测试环节。
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核心产品集中亮相，覆盖半导体测试关键链路
半导体芯片的设计验证、晶圆测试、系统集成与量产导入等环节，对测试仪器的带宽、精度与动态范围均提出严苛要求。针对这些需求，优利德持续完善测试解决方案，覆盖从芯片特性表征到系统级验证的完整链路。其中，VNA4000系列矢量网络分析仪聚焦高频反射与传输参数测试，广泛应用于射频前端与天线芯片级场景；UTS7000A系列信号分析仪凭借低相位噪声与高动态范围，为通信及雷达感知芯片的频谱纯净度提供可靠验证。时域测试方面，UPO70000系列数字荧光示波器与UPO6000LP系列紧凑型高分辨率示波器分别面向高端研发与系统集成场景，满足从高速数字接口到功率器件动态响应的测试需求。
展会现场
依托上述产品的综合性能优势，优利德能够有效降低产业链在关键参数验证环节的设备门槛，助力半导体行业实现更高效、更可靠的工程落地。
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开放生态协同，共话产业高质量发展
展会期间，优利德与产业链上下游企业、科研院所专家深入交流。立足国内半导体国产替代提速、算力及车规芯片市场需求持续攀升的产业背景，各方围绕先进制程测试、高频信号分析等方向达成多项积极共识。此外，多家企业与机构现场抛出合作意向，优利德同步收集行业痛点与前沿需求，为后续产品研发迭代积攒落地参考。
半导体产业的高质量发展，需要完备的测试配套体系作为基础。优利德将立足产业所需，深耕测试之本，持续打磨国产化配套方案，为半导体产业提供自主可控的技术支撑。
